新天萬(wàn)能工具顯微鏡JX14B是測(cè)量二維幾何元素的儀器

萬(wàn)能工具顯微鏡是應(yīng)用計(jì)算機(jī)輔助測(cè)量的新一代萬(wàn)能工具顯微鏡，能解決各種復(fù)雜的二維測(cè)量問(wèn)題。
 
萬(wàn)能工具顯微鏡可以測(cè)量零件的長(zhǎng)度、角度、螺紋等諸多幾何量參數(shù)，是長(zhǎng)度計(jì)量檢測(cè)中使用最多的一種測(cè)試儀器，因此廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工業(yè)的各類企業(yè)。但隨著現(xiàn)代工業(yè)的發(fā)展以及科技的進(jìn)步，傳統(tǒng)的老式萬(wàn)工顯已難以滿足要求，因此很有必要對(duì)其進(jìn)行技術(shù)改造。

一、數(shù)顯系統(tǒng)的改型
二、數(shù)顯系統(tǒng)的安裝
三、數(shù)顯系統(tǒng)的調(diào)試
四、數(shù)顯系統(tǒng)的檢定

根據(jù)萬(wàn)工顯檢定規(guī)程中的相關(guān)規(guī)定，需要檢定讀數(shù)裝置的示值誤差、讀數(shù)裝置的回程誤差和示值誤差。

    (1)讀數(shù)裝置的示值誤差檢定

    對(duì)數(shù)顯系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，讀數(shù)裝置的示值誤差就是數(shù)顯表的最小分辨率，即±0.5μm，無(wú)須檢定。

    (2)讀數(shù)裝置的示值誤差的檢定(相當(dāng)于磁柵尺的重復(fù)性)

    光柵尺讀數(shù)裝置就其構(gòu)造和原理來(lái)說(shuō)是沒有回程誤差的，當(dāng)然這需要很高的工藝水平做保證通過(guò)用0.1μm的電感測(cè)微儀反復(fù)測(cè)試，光柵尺讀數(shù)裝置的回程誤差最大不超過(guò)0.5μm

    (3)示值誤差的檢定(相當(dāng)于磁柵尺的準(zhǔn)確性)

    用檢定極限誤差不大于0.5μm的玻璃刻度尺作為標(biāo)準(zhǔn)，按照規(guī)程規(guī)定的條件方法對(duì)縱、橫向分別進(jìn)行檢定;若沒有玻璃刻度尺，可用萬(wàn)能工具顯微鏡原有的刻度尺與光柵尺進(jìn)行比較檢定，并用儀器原有的示值誤差進(jìn)行修正，以確定光柵尺各被檢點(diǎn)的實(shí)際誤差，若有超差再用線性補(bǔ)償系統(tǒng)進(jìn)行補(bǔ)償。